Połączenie spektroskopu skaningowego-Ramana umożliwia mikroregionową analizę in situ próbek, umożliwiając systematyczne badania analityczne próbek. Ponieważ dane z elektroskopu skanującego mogą być pozyskane z tego samego punktu, jak i dane z spektrum Ramana, można szybko i intuicyjnie opisać związek pomiędzy morfologią powierzchni próbki a strukturą cząsteczkową materiału. W oparciu o obrazy SEM można dokładniej przeprowadzić szybką i niezniszczoną analizę składu materiału w wybranym obszarze próbki, aby uzyskać dokładne dane o składzie próbki.

Przykład 1: Charakteryzacja stosunku PO4/SO4 w minerału fosforanu aluminiumu na poziomie mikronowym oraz identyfikacja złożonych składników złożonych w nim: kalit i fibrofosforanu wapniowego

Przykład 2: Analiza spektralna Ramana do osiągnięcia poziomu cząstek w mineralach uranylu

Przykład 3: Identyfikacja obszarów jednowarstwowych i wielowarstwowych w przygotowanej próbce grafenu