Elastyczne urządzenie do wykonywania próbek o różnych rozmiarach, kształtach, teksturach i poziomach przejrzystości Dokładne i duże pomiary produkcyjne. WbudowanyNetProfilerSystem z funkcjami samodiagnostyki i automatycznej konfiguracji W połączeniu zapewnia spójną i dokładną wydajność.

• Wysoka wydajność.Idealne rozwiązanie dla maszyn stacjonarnych średniej klasy do pomiaru różnych próbek w operacjach produkcyjnych o dużej pojemności z niezrównaną łatwością obsługi i elastycznością

Wbudowany NetProfiler ®。Wbudowany system monitorujący wydajność przyrządu oraz optymalizujący i certyfikujący go za pośrednictwem Internetu bez konieczności dodatkowych usług, dzięki czemu możesz łatwo wymieniać dane o kolorze spektrum przy oszczędności kosztów operacyjnych

• Jednoczesne pomiary SCI/SCE oraz kalibracja UV.Technologia trzech promieni może mierzyć jednocześnieSCI(włącznie z odbiciem lustrzanym) orazSCE(z wyłączeniem odzwierciedlenia lustra) można przeprowadzić odpowiednie pomiary połysku i skorygować połysk, aby łatwo symulować efekt wizualny ludzkiego oka na kolor. AutomatycznyUVSterowanie (UV) może być szybko i łatwo automatyzowaneUV D65Kalibracja i dostosowanie,Jednocześnie zawierają/WyłączenieUVpomiary. Pomaga to w precyzyjnym pomiarze optycznie oświetlonych lub fluorescencyjnych próbek

• Doskonała automatyczna konfiguracja upraszcza ustawienia i eliminuje błędy pomiarowe.Ponieważ system może być konfigurowany automatycznie, w praktyce nie można zastosować błędnych wyników pomiarów. Każdy pomiar zawiera również jeden“Podpis cyfrowy”sprawdzić stan urządzenia. Każdy, kto używa twoich danych–Wszyscy, w tym dostawcy, klienci lub inni operatorzy i instytucje, będą wiedzieć, że dane są wiarygodne.

• pomiary refleksji i transmisji.Trzy otwory pomiarowe, które mogą być używane do pomiaru odbicia i pełnej transmisji oraz pomiaru bezpośredniej transmisji, mogą być używane do pomiaru próbek różnych rozmiarów. Przyrząd może być również umieszczony poziomo lub pionowo, dzięki czemu można mierzyć różne próbki o różnych rozmiarach, różnych kształtach i różnych stanach przezroczystości, co zwiększa elastyczność pomiaru

• Zdalne przyciski standardowe i próbne.Przycisk zdalnego odczytu pozwala użytkownikowi bezpośrednio naColor i5Urządzenie wyzwala pomiary i identyfikuje dane jako pomiary standardowe lub próbkowe. Funkcja podglądu próbki pozwala użytkownikowi zweryfikować obszar pomiaru próbki, aby uniknąć błędów przy przyspieszeniu pomiaru.

• Unikalny panel stanu LED ostrzega, gdy dane są zagrożone.Pozwala użytkownikom i monitorom na szybką weryfikacjęColor i5Status i konfiguracja

Specyfikacje techniczne

Dokładność powtarzania: (Biała tablica standardowa)* Maksymalna wartość0.03RMS ΔE CIELab
Spójność pomiędzy instrumentami： 0.15 Średnia wartośćΔE CIELab
Światło Źródło： Lampa ksenonowa pulsowa, kalibracjaD65
Zakres widma： 360 Nano– 750Nano
Przerwa długości fali： 10 Nano

Zakres pomiaru świetlności: 0.0%Do200%Odbiórczość
Rozdzielczość pomiaru światłości：0.01%
Czas pomiaru： 2.5sekundy
Odbieg otworu： Duże otwory(LAV) ：22milimetrów
Małe otwory(SAV) ：10milimetrów

Niewielkie otwory(VSAV)：6 milimetrów

Całkowita otwartość: Duże otwory(LAV) ：22milimetrów
Małe otwory(SAV) ：10milimetrów

Niewielkie otwory(VSAV)：6 milimetrów

Bezpośrednia transmisja: 22milimetrówMi

Konfiguracja optyczna: Trzy promienie, rozproszenie8°，6calaPiłka punktowa,2D CCDtablice/Raster holograficzny

Stopa Rozmiar: Wysokość 25 centymetrów（10 cala）
Szerokość 23 centymetrów（9cala）
Głębokość 47 centymetrów（18 cala）

Ciężkie Ilość: 12Publicznekg

Temperatura pracy: 10˚ C - 35˚ C

Wilgotność względna (operacyjna):20% – 80%Bez kondensacji

Wymagania energetyczne: 100Do240VAC / 50 - 60 Hz

Odbierz Usta: USB /RS-232

NetProfiler： Wbudowany

Specjalne funkcje: JednocześnieSCI/SCEPomiar, automatycznyUVi regulacja obiektywu, podpis cyfrowy, wbudowanyNetProfilerpomiary poziome lub pionowe

* W stosunku do standardowej wartości miłości w warunkach laboratoryjnych,BCRAŚrednia standardowa płytkaDEwartość,LAV，22Stopień Celsjusza. Zmiany specyfikacji bez powiadomienia.